태양 광 모듈 EL 검출기
영어로 된 EL의 전체 이름은 Electro Luminescence, 즉 electroluminescence 또는 electroluminescence detection이라고 할 수 있습니다. 결정 실리콘의 전계 발광 원리를 고해상도 적외선 카메라와 함께 사용하여 결정 실리콘의 근적외선 이미지를 캡처하면 이미지 소프트웨어를 사용하여 획득 한 이미징 이미지를 분석하고 처리하여 태양 전지, 태양 광 모듈 등의 결함을 확인합니다.
현재 EL 검사는 태양 광 모듈의 결함 검사, 태양 전지의 내부 결함 검사, 실리콘 칩 균열 검사와 같은 태양 광 산업에서 적용됩니다. 휴대용 EL 검출기는 태양 광 모듈 및 태양 광 발전소에 사용되며, 이는 다양한 장소의 다양한 환경과 응용 분야에 적응할 수 있으며 태양 광 모듈로 인한 내부 결함을 신속하게 식별하고 판단 할 수 있습니다.
태양 전지 생산에서 EL 검출기를 태양 전지 스플리터에 적용하여 블랙 코어, 다크 스팟, 깨진 그리드, 숨겨진 균열 및 파편과 같이 머신 비전 시스템에서 쉽게 식별 할 수없는 내부 결함을 식별 할 수 있습니다. 셀과 실리콘 웨이퍼의 분류에서 일반적인 결함과 색상은 머신 비전 시스템으로 식별하고 판단 할 수 있지만 일부 내부 결함은 시스템에서 식별하기 어렵거나 누락되어 분류 장비에 대한 오판 또는 오판으로 이어집니다. 능률. 현재 EL 테스터 기술은 세포의 양성 및 음성 결함, 색상 및 내부 결함의 식별 및 분류를 실현할 수 있습니다. 감지 속도는 동일한 국제 수준에 도달했으며 감지 효율성이 크게 향상되었습니다.